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MAPS-Zscan系列測量三階光學非線性的Z掃描系統

Z掃描測量系統，可用于研究光子材料的三階非線性吸收特性，三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質因子。此系統將工控機、電機控制器、Z掃描光路高度集成，設備占地小且方便移動。將樣品放置好后，按操作說明可進行一鍵全自動測量。

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測量三階光學非線性的Z掃描系統
Waynelabs3 的Z掃描測量系統，可用于研究光子材料的三階非線性吸收特性，三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質因子。此系統將工控機、電機控制器、Z掃描光路高度集成，設備占地小且方便移動。

將樣品放置好后，按操作說明可進行一鍵全自動測量。

系統原理示意圖

*此圖僅作為原理示意，以實際為準

應用場景

表征非線性光學材料的三階非線性光學特性，包括三階非線性吸收系數和三階非線性折射，三階非線性極化率及單光子/雙光子品質因子。

· 鈮酸鋰、ZnO等薄膜材料；

· 貴金屬納米結構溶液或者薄膜材料；

· 二維材料（TMDs、鈣鈦礦等）薄膜。

典型數據圖

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