RTS2-Omni-Imager拉曼-高光譜聯用顯微光譜測試系統

RTS2-Omni-Imager 暗場散射顯微高光譜儀是卓立漢光全新推出一款套暗場散射高光譜系統。該系統以暗場散射高光譜為主，可集成穩態/ 瞬態熒光、拉曼光譜技術于一身，突破單類別光譜儀器適用性上的局限，為高端科研用戶提供一套以全新設計理念實現的快速、綜合、原位、相關四位一體集成化光譜測量識別系統

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暗場顯微技術采用

暗場顯微技術采用光學顯微鏡結合特殊的照明和觀察方式，使得只有樣品散射的信號能夠進入物鏡并被探測到，利用這個方法可以看見突破衍射極限的微粒子。暗場顯微技術可克服常規光學顯微（明場照明成像）針對均一樣品中的微小結構成像時，透射或反射襯度不足的問題，使得微小的結構在背景中得以突出呈現，特別適合顆粒、纖維、小尺度界

面等的觀測。

高光譜成像（Hyperspectral Imaging, HSI）是指具有高光譜分辨率的遙感科學和技術，借助成像光譜儀，能在紫外、可見光、近紅外和中紅外區域、獲取許多非常窄且光譜連續的圖像數據，為每個像元提供數十至數百個窄波段（通常波段寬度 <10nm）光譜信息，能產生一條完整而連續的光譜曲線。
成像光譜儀每次成目標上一條線的像，并分光使每個光譜成分對應線陣上的一個像素點。因此，每一幅來自光譜相機的圖像結構包括一個維度（空間軸）上的線陣像素和在另一個維度（光譜軸）上的光譜分布（光在光譜元素的強度），實現“圖譜合一”。

采用擁有自主**技術的焦平面掃描成像技術，通過內置運動掃描成像和調焦的精密電控平臺結構分別實現圖像的獲取和焦距景深的調整。

高光譜成像原理圖

暗場顯微高光譜成像系統可以集暗場散射、瞬態熒光、拉曼光譜等技術于一體，基于推掃式的快速光譜成像特點，數據立方體的采集時間 10s~1min 間（考慮相機參數：相機像素、曝光時間、幀頻、信號強弱等因素），保證不穩定樣品在短時間內被快速測量并分析，實現對納米材料的軌跡追蹤，對運動規律和物性變化進行實時分析。

針對大尺寸樣品，可以通過加配自研外置的精密電控二維掃描平臺并借助分光和探測模組等實現對目標的 Mapping掃描，且自動完成每條航帶的自動拼接修正，從而得到大尺寸的單層影像。如借助內置自動調焦維度的運動控制結構，

可以實現不同層析間的原位成像檢測或者 Mapping 掃描。實現大尺寸、多維度、原位及層析間的成像應用。

產品介紹

RTS2-Omni-Imager 暗場散射顯微高光譜儀是北京卓立漢光儀器有限公司全新推出一款套暗場散射高光譜系統。該系統以暗場散射高光譜為主，可集成穩態 / 瞬態熒光、拉曼光譜技術于一身，突破單類別光譜儀器適用性上的局限，為高端科研用戶提供一套以全新設計理念實現的快速、綜合、原位、相關四位一體的集成化光譜測量識別系統。

系統采用模塊化設計，具有良好的拓展性，滿足不同應用場景需求。采用線推掃成像替代傳統點掃描光譜成像，掃描速度快，在數分鐘內對視野范圍內樣品進行反射光譜、熒光光譜和暗場散射光譜信號做高光譜掃描，獲取樣品的圖像和光譜信息。具備高靈敏度、高準確度等優勢

典型應用場景：

• 量子點暗場散射

• 納米材料科學

• 生物科學

• 偽裝識別

• 藥品醫學

系統配置和關鍵部件

如同一般的微區光譜系統，暗場散射光譜可通過暗場顯微鏡（透射照明需配置暗場聚光器，落射照明需配置明暗場物鏡及落射暗場照明器），成像光柵光譜儀以及高靈敏度科研級 CCD 探測器構成。
傳統暗場散射光譜系統的結構由圖所示。在暗場顯微鏡的影像出口轉接光柵光譜儀，顯微鏡成像于光譜儀入口。光譜儀入口狹縫開大，選擇反射鏡替代光柵（或將光柵波長設為“0”），可在光譜儀 CCD 上觀測暗場成像；選擇感興趣的顆粒使其位于視場中心，狹縫調小，光柵切換到適當的波長位置，即可獲得暗場光譜。全新暗場散射高光譜儀可以使用高光譜相機代理顯微鏡的彩色成像相機，在不移動樣品的情況下，得到樣品的圖像和包含每個點的光譜的高光譜圖像。系統可與傳統光柵光譜儀共存，引入激光和共焦光路，從而實現熒光或者拉曼光譜的激發。