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MAPS-SHG系列偏振二次諧波掃描成像系統

標準二次諧波系統,采用共聚焦的激發和收集方式,可實現帶偏振的二次諧波成像。該系統可以與用戶的飛秒激光器耦合,實現全電動化偏振分辨的微區二次諧波測試。
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產品概述
偏振二次諧波掃描成像系統
 
Waynelabs3 標準二次諧波系統,采用共聚焦的激發和收集方式。該系統可以與用戶的飛秒激光器耦合,實現全電動化偏振分辨的微區二次諧波測試。
 
系統原理示意圖
*此圖僅作為原理示意,以實際為準
 
 

偏振二次諧波掃描成像系統典型數據圖


基本功能
· 二次諧波光譜測試;
· 二次諧波Mapping;
· 激發與收集光獨立控制的電動偏振掃描;
· 可適配低溫臺、電學樣品臺等;
· 可定制其它特色功能。
 
偏振二次諧波掃描成像系統應用場景
 
非線性光學材料與器件的非線性光學過程,及二維材料的晶體結構探測
·   維材料的晶體對稱研究;
·  鐵電材料的電極化特性研究;
· 反鐵磁材料的自旋耦合特性研究。
非線性光子材料SHG / THG特性表征
· 鈮酸鋰納米顆?;蛘弑∧さ腟HG產生;
· 二維材料(TMDs)材料的SHG產生;
· 貴金屬納米結構 / TMDs異質結的SHG產生調控等。
 
典型參數配置
激發光源: 飛秒激光器
空間分辨率: < 1 mm
電動位移行程: 50 mm × 50 mm × 40 mm
掃描精度: < 1 mm,步進最小 0.04 mm
電動位移行程: 50 mm × 50 mm × 40 mm
偏振控制: 電動
光路切換方式: 電動,軟件控制
物鏡組: 5X,10X,20X,50X,100X可見光物鏡;其它物鏡可定制
照明光源: 高顯色LED面光源
光譜采集: 光纖光譜儀; 臺式光柵光譜儀(可選)
軟件功能:移動視場,切換物鏡,對焦,框選掃描區域均可用鼠標直接在圖像顯示窗口操作;電動功率調整;自動光路模式切換;自動Mapping;自動化偏振Mapping;實時處理與顯示數據