反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統
Waynelabs3 的標準反射/透射光譜測試系統，采用“所見即所得”的測量方式，即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時看到測量光斑，成像與測量光路通過電機切換。標準系統可滿足紫外/可見/近紅外波段的測試需求，對于特殊波段可進行優化設計及光路定制。
基本功能
· 白光反射譜及Mapping成像；
· 白光透射譜及Mapping成像；
· 電動變偏振采譜；（可選）
· 適配低溫臺、電學樣品臺等；（可選）
· 共聚焦方式和科勒照明方式；（可選）
· 透射光譜無色散設計；（可選）
· 入射及收集光路均可配置雙口電動切換。（可選）
應用場景
光學材料的能級及振動強弱信息探測
· 半導體材料的帶隙探測；
· 無機光學材料的吸收特性研究；
· 貴金屬納米材料的表面等離激元共振特性研究；
· 光學材料的基礎光譜表征。
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統典型參數配置
測試光源： 光纖耦合鹵素燈；自由空間鹵素燈（可選）
支持光譜范圍： 250 nm - 850 nm；400 nm - 1100 nm；900 nm - 1700 nm
空間分辨率： ＜ 1 mm
電動位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
掃描精度： ＜ 1 mm，步進最小 0.04 mm
偏振控制： 電動
測量方式： 反射和透射
光路切換方式： 電動，軟件控制
物鏡組： 5X，10X，20X，50X，100X可見光物鏡；反射式物鏡，紅外長焦物鏡等可選
照明光源： 高顯色LED面光源
光譜采集： 光纖光譜儀；光柵光譜儀（可選）
軟件功能：移動視場，切換物鏡，對焦，框選掃描區域均可用鼠標直接在圖像顯示窗口操作；電動功率調整；自動光路模式切換；自動化Mapping；自動化偏振Mapping；實時處理與顯示數據。
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