型號 |
FI-R3X-A |
FI-R3X-AE |
FI-R3X-B |
FI-R3X-BE |
單位 |
光譜范圍 |
5000-500 |
5000-650 |
7500-400 |
7500-650 |
cm-1 |
分辨率 |
≤1 |
cm-1 |
|||
波數精度 |
≤0.01 |
cm-1 |
|||
信噪比 |
≥40,000:1 |
- |
|||
透過率精度 |
≤0.1 |
%τ |
|||
分束器 |
ZnSe |
KBr |
- |
||
干涉儀 |
基于一體成型立體角鏡 |
- |
|||
檢測器 |
高靈敏度 DLaTGS |
制冷型 MCT |
高靈敏度 DLaTGS |
制冷型 MCT |
- |
主機尺寸 |
685×415×223 |
mm |
|||
重量 |
20 |
kg |
金剛石 ATR 附件 |
金剛石 ATR 附件,純金剛石 晶體、高強度、超級耐腐蝕、 晶體尺寸大、光通量高,靈敏 度優異。 |
30°鏡面反射附件 | 適用于全反射材料
30°固定角度設計
|
45°鏡面反射附件 | 適用于全反射材料
45°固定角度設計
|
10°鏡面反射附件 | 適用于全反射材料
10°固定角度設計
PIKE TECHNOLOGY 產品
|
80°鏡面反射附件 | 適用于全反射材料
80°掠入射角度設計
PIKE TECHNOLOGY 產品
|
可變角度鏡面反射附件 |
適用于全反射材料
30°-80°可變角度設計
角度調整精度:1°
PIKE TECHNOLOGY 產品
|
絕對測量鏡面反射附件 |
適用于全反射材料
12°固定角度設計
PIKE TECHNOLOGY 產品
|
漫反射附件 | 適用于固體材料
簡易漫反射測量
PIKE TECHNOLOGY 產品
|
長光程氣體池附件 | 適用于氣體測量,可針對低濃度氣體、高溫氣體、腐蝕性氣體等特殊氣體進行紅外光譜測量
光程長:5m
|
可變溫ATR 附件 | 晶體為金剛石晶體,有兩種可選210 和300℃。樣品需要放置在ATR 晶體上,晶體加熱樣品,可以觀測固態到液態或者液體的固化的光譜的變化過程。 |
可變溫的固體樣品透射和鏡反射測試附件 |
溫度范圍:室溫~ -600℃,可
以抽真空和通氣, 樣品窗
13*1mm,最大耐壓0.5mpa,
尺寸84 x 100 x 16 mm
|
可變溫的液體樣品的透射測試附件 | 溫度范圍:5~130℃ |
型號 | 描述 |
主機系列 | |
FI-R3X-A | 傅里葉紅外光譜儀主機,配置DLaTGS 探測器,ZnSe 分束器, 標準透射功能,含聚焦透射光路和平行透射光路測量位。 |
FI-R3X-AE | 傅里葉紅外光譜儀主機,配置制冷型MCT 探測器,ZnSe 分 束器,標準透射功能,含聚焦透射光路和平行透射光路測量 位。 |
FI-R3X-B | 傅里葉紅外光譜儀主機,配置DLaTGS 探測器,KBr 分束器, 標準透射功能,含聚焦透射光路和平行透射光路測量位。 |
FI-R3X-BE | 傅里葉紅外光譜儀主機,配置制冷型MCT 探測器,KBr 分 束器,標準透射功能,含聚焦透射光路和平行透射光路測量 位。 |
附件系列 | |
FR3XACC-ATR | 標準金剛石ATR 測量附件 |
FR3XACC-ATR-A | 可變溫金剛石ATR 測量附件 |
FR3XACC-ATR-B | 可變溫的固體樣品透射和鏡反射測試附件 |
FR3XACC-ATR-C | 可變溫的液體樣品的透射測試附件 |
FR3XACC-STD30 | 標準30°固定角度鏡面反射附件 |
FR3XACC-STD45 | 標準45°固定角度鏡面反射附件 |
FR3XACC-10Spec | 10°鏡面反射附件,PIKE TECHNOLOGY 產品 |
FR3XACC-80Spec | 80°鏡面反射附件,PIKE TECHNOLOGY 產品 |
FR3XACC-VeeMAX | 手調式可變角鏡面反射附件,PIKE TECHNOLOGY 產品 |
FR3XACC-ARA | 絕對測量鏡面反射附件,PIKE TECHNOLOGY 產品 |
FR3XACC-DIFF | 漫反射簡易測量附件,PIKE TECHNOLOGY 產品 |
FR3XACC-LPG5000 | 長光程氣體池附件,光程5m |
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