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鈣鈦礦(Perovskite)材料是一類有著與鈦酸鈣（CaTiO3）相同晶體結構的材料。 鈣鈦礦材料結構式一般為ABX3,其中A,B是兩種陽離子，X 是陰離子。 近200年來，人們對鈣鈦礦材料的研究從未停止，元素周期表幾乎所有的元素都可以占據晶格結構的位置組成鈣鈦礦。鈣鈦礦大家族里現已包括數百種物質，范圍極為廣泛，其中很多是人工合成的。 這類材料具有獨特的魅力，其多變的晶體結構可以引申出眾多的材料屬性：可以是絕緣體、半導體、導體、超導體，可以具有鐵電性、鐵磁性，鐵彈性、催化性、質子傳導性、離子傳導性、光電性。
概念解釋：暗場顯微(英文：Dark-field microscopy)或稱暗視野顯微(英文：Dark ground microscopy)描述光學顯微和電子顯微中的一種特殊顯微手法，除去觀測物體以外的光線或電子進入物鏡，使目鏡中觀測到的視野背景是黑的，只有物體的邊緣是亮的。利用這個方法能見到小至 4~200nm的微粒子，分辨率可比普通顯微法高50倍。
閃爍晶體到底是什么？可能很多人都沒聽過這個詞，但其實，在我們的日常生活中并不陌生。閃爍體是一種當被電離輻射激發之后會表現出發光特性的材料，是將高能轉換為可見光的一種典型光電轉換材料，可用于輻射探測和安全防護，通常在應用中將其加工成晶體，稱為閃爍晶體。
硫化銦（In2S3 ）[1]是一種具有極高潛在利用價值的半導體材料，可作為CIGS薄膜太陽能電池的緩沖層材料，并有望作為Cds緩沖層的替代材料，在光伏與光電器件上有很好的應用前景。 In2S3在常溫常壓下比較穩定，屬于立方晶系，具有四面體和八面體的空間結構，并存在高密度的In空位。 一般存在α、β、r 3種相，常溫下穩定的為β 相。
半導體器件和電路制造技術飛速發展，器件特征尺寸不斷下降，而集成度不斷上升。這兩方面的變化都給失效缺陷定位和失效機理的分析帶來巨大的挑戰。對于半導體失效分析(FA)而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。微光顯微鏡其高靈敏度的偵測能力，可偵測到半導體組件中電子－電洞對再結合時所發射出來的光線，能偵測到的波長約在350nm ~ 1100nm 左右。 它可以廣泛的應用于偵測IC 中各種組件缺陷所產生的漏電流，如： Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage等。EMMI的工作原理圖如下:
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